LCR测试仪

发布时间:2022-09-13点击数:

 

设备基本情况:

设备名称LCR测试仪       型    号4287A

 

   安捷伦  存放地点实验2号楼402

 

联系人:   彭义            联系电话: 15920175699

主要规格及技术指标

·1MHz3GHz,以100KHz分档

·阻抗测量范围宽,从200mΩ到3KΩ

·在低测度信号电平上具有优良的测量重复性

·基本精度为1%

·高速测量9ms

主要功能及特色

HP4287A射频测试仪LCR1MHz3GHz频率范围可以提供精确,可靠和快速测量,以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反向测量技术不同,采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行精确测量。

生产率高,质量可靠

HP4287A适于在射频范围对电子元器件进行测试。HP4287A的测量非常快。此外,在小测试电流(100μA)优良的测试重复性还可以显著提高生产率,因为所需的取平均过程非常短。

系统组建简单

测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件点测件接点附近,而不会使误差有任何增大。内置比较器功能,高速GPIB处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。

 

 

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